多功能PB7220-2000-T太赫茲頻率分析光譜平臺專為精確掃描復雜化合物而設計，具有更高的精度和控制能力。當THz研究人員和應用開發人員需要以高分辨率研究太赫茲頻率下的材料特性時，PB7220太赫茲頻域分析光譜儀是一個理想選擇。從100 GHz掃描到1.8 THz以上的單次快速掃描，其頻率分辨率高于0.25 GHz。
PB7220太赫茲頻域分析光譜儀采用精確調諧的光纖耦合蝶形封裝半導體DFB激光器，先進的光混合光源和檢測器以及先進的數字控制硬件和軟件，提供完整的THz一鍵式啟動光譜儀。光混合源的高效CW特性使得所有的THz功率都處于感興趣的頻率范圍內，在高達70 dB Hz的掃描范圍內具有出色的動態范圍。
光纖耦合光源和探測器探頭安裝在導軌系統上，用于傳輸測量。它們也可以分離開來，與擴展的光纜一起使用，得以在更廣泛的應用中提供最大的測量靈活性。
